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應(yīng)用案例
CASE
工程師日記 | 測試數(shù)據(jù)不穩(wěn)定/光室吹掃效率低的解決方法
客戶反饋 數(shù)據(jù)不穩(wěn)定/光室吹掃效率低。 ??01應(yīng)用知識背景 此故障一般由多種原因引起：信號強度低，樣品前處理不當或其它原因引起。
01 黑暗之主的盔甲：奇跡與疏忽的故事 我們都知道達斯·維達那令人敬畏的形象，這位強大的存在被包裹在一套維持生命的盔甲中，這是在一場悲劇的決斗后，他變得比人類更像機器。然而，在這項技術(shù)奇跡的表面之下，隱藏著許多挑戰(zhàn)，包括行動限制、對原力閃電的脆弱性，以及曾經(jīng)敏捷的阿納金·天行者因笨拙設(shè)計而受到的阻礙。
X-MET8000系列用于快速測量 質(zhì)子交換膜（PEM）上的Pt和Ir載 量
質(zhì)子交換膜是未來可持續(xù)能源系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)。燃料電池中的質(zhì)子交 換膜能夠高效地將氫氣轉(zhuǎn)化為電能，且無有害氣體排放。質(zhì)子交換膜 燃料電池廣泛用于電解水制氫，質(zhì)子交換膜在氫能產(chǎn)業(yè)中發(fā)揮著至關(guān) 重要的作用。
XRF分析儀的智能功能將讓您的鍍層質(zhì)量控制更加高效
FT230 XRF鍍層分析儀專用于滿足鍍層行業(yè)的特殊需求。FT230通過整合全新的軟件界面、用戶體驗功能以及高端分析組件，可以更簡便地測試更多數(shù)量的樣品，從而使操作員有時間在測量XRF的同時，執(zhí)行其他工作。FT230配備四種新的關(guān)鍵功能，可助力更快完成鍍層分析：
任何精密儀器想要測定出準確的數(shù)據(jù)，必須在一定的工作條件下運行，環(huán)境對分析儀器的性能、可靠性、測量結(jié)果和壽命都有很大的影響。而忽視其工作環(huán)境，容易導(dǎo)致儀器故障。因為外部環(huán)境的微小變化，都會對數(shù)據(jù)測定的穩(wěn)定性帶來變化；外部環(huán)境變化嚴重時還會對儀器造成損壞，縮短儀器的使用壽命。
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