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用二合一解決方案進行清潔度分析 | 同時查看顆粒并了解其成分

發布時間：2022-07-12

整個分析工作流程比掃描電子顯微鏡(SEM)等其他方式更加快速，因為：
無需樣本制備；
無需將樣本轉移到其他設備；
過濾樣本始終在大氣條件下在空氣中進行分析。
二合一解決方案可提供待分析顆粒的目視和化學數據，能夠在更短時間內為生產、質量控制和故障分析的進一步行動作出合理決策。

二合一解決方案，比如徠卡顯微系統DM6 M LIBS材料分析解決方案（參見圖1），結合了光學顯微鏡（目視分析）和激光誘導擊穿光譜（LIBS）（化學分析）。為實現高效的清潔度分析，大家對二合一解決方案相較于掃描電子顯微鏡(SEM)和能量色散譜（EDS）等其他方式的優勢進行了討論。

圖1：徠卡顯微系統的DM6 M LIBS解決方案可同時采用光學顯微鏡和LIBS（激光誘導擊穿光譜）進行清潔度分析。使用這種二合一解決方案的化學分析工作流程能夠以更少的時間和精力找出污染源。

更易于找到并消除污染源

對于清潔度技術，最終目標是找到并消除污染源。因為簡化了清潔度分析工作流程，二合一解決方案能夠以更少的時間和精力確定污染源。

與掃描電子顯微鏡（SEM）和能量色散譜（EDS）分析不同，該解決方案：
無需樣本制備；
無需將樣本從一個設備轉移到另一個；
無需將重點轉移到過濾器并對系統進行調整；
不用浪費時間等待真空環境（分析始終在大氣條件下在空氣中進行）
下方的圖2對比了使用二合一解決方案和SEM/EDS進行清潔度分析工作流程的區別。

清潔度分析工作流程二合一解決方案與光學+電子顯微鏡

圖2：使用DM6 M LIBS系統這樣將光學顯微鏡（OM）和LIBS相結合的二合一解決方案能夠更快找出污染源。

二合一解決方案：
顆粒成像和成分分析
下方的圖3顯示了使用徠卡顯微系統的DM6 M LIBS解決方案對過濾器上的顆粒進行目視和化學分析的示例。

圖3：使用DM6 M LIBS二合一解決方案進行清潔度分析：A)對過濾器上的一個顆粒進行檢測、計算和測量；B)如果顆粒為金屬，使用適當的光學對比法可以看到顆粒的反射；C)使用LIBS，對過濾器上檢測到的顆粒進行激光打靶（紅十字準星）；D)LIBS的元素譜清楚顯示顆粒的成分是鋁（Al）。

高效的整體清潔度工作流程

在整體清潔度工作流程中，通常要用到來自不同供應商的多種儀器設備進行顆粒提取和分析。從顆粒提取到分析的整個工作流程使用“單一來源”的清潔度解決方案會更加方便。徠卡顯微系統和Pall就攜手為汽車和運輸行業提供了這樣一個獨特的整體清潔度解決方案。使用Pall的清洗柜和徠卡顯微系統的DM6 M LIBS二合一解決方案的整體清潔度工作流程請見下方的圖4。

整體解決方案的優勢是更易于實現清潔度分析的最終目標：
確定顆粒導致損害的可能性；
對于可能嚴重威脅產品性能和使用壽命的顆粒，找出并消除污染源。