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使用CUBE系列掃描電鏡進行異常點分析

發(fā)布時間：2024-12-21

在工業(yè)生產(chǎn)的過程中，由于設備、環(huán)境等外在因素影響，可能會導致生產(chǎn)出來的產(chǎn)品未達到出廠標準，這時就需要檢驗人員進行檢查，找到產(chǎn)生異常點的位置。異常點的尺寸通常來說都很微小，需要借助掃描電鏡來進行分析。

CUBE系列掃描電鏡可以在一個相對范圍內(nèi)找到需要觀察的區(qū)域，并且通過EDS來分析該區(qū)域內(nèi)的元素，增加數(shù)據(jù)，幫助分析。下面是我們使用CUBE系列掃描電鏡進行分析的兩個案例

案例一

樣本為一個金屬件，經(jīng)過加工后物體表面有黑色的點狀物質(zhì)，這會導致產(chǎn)品性能受限。

使用CUBE系列掃描電鏡拍攝后，從圖像中只能看出金屬件的表面確實有幾十微米級別的黑色物質(zhì)，并不能判斷它的組成。所以又對該區(qū)域進行了面掃，從面掃結(jié)果中可以看出，黑色顆粒中的主要物質(zhì)為碳。那么可以從中推斷該黑色顆粒應該是加工過程中，油類物質(zhì)掉在金屬件上，從而導致的產(chǎn)品缺陷。