顆粒數量 -> 判定污染的整體程度
顆粒尺寸（長、寬、高） -> 判定單顆粒的破壞性
顆粒材料（反光或非反光顆粒，對應為金屬或塑料） -> 判定顆粒負荷的一般破壞性和單顆粒的破壞性
區分顆粒和纖維之間 -> 判定單顆粒的破壞性和污染源由于受測產品的不同，上述要素的重要性也不盡相同。因此，Leica Cleanliness Expert 提供了靈活多樣的配置，以及一系列執行分析需要遵循的標準，包括本地、國家和國際化標準，例如，ISO 16232、VDA 19和 ISO 4406。

Leica DM4 M 清潔度顯微鏡

適用于材料科學和質量控制領域，能夠提供真實、可再現的顯微鏡觀察結果，呈現光學性能以及高品質的圖像。只需輕敲一個按鈕，即可存儲和恢復成像條件。利用高品質顯微圖像，能夠輕松進行具有挑戰性的檢驗、測量和分析任務。

兩種解決方案適用于可執行多種任務

Leica DM4 M 顯微鏡具有兩種標準配置，適用于不同的應用領域和成本預算：手動編碼控制的 Leica DM4 M 是一款性價比很高的解決方案，適用于常規檢驗任務，比如，質控部對新進物料進行檢驗，等等。由于編碼控制功能的設置參數與圖像一起存儲，確保了圖像的可再現性，以及檢驗數據的可靠性。

智能化的相對管理系統，確保可再現性

Leica DM4 M能夠實現在不同觀察方法之間的輕松切換：選擇一個特定的觀察模式，不到一秒鐘，所有元件均將轉移至光路中。此外，顯微鏡將自動修改照明設置、亮度以及光闌位置，使之適用于該觀察模式。

LED 照明系統確保適用于所有觀察方法

不管是在明場、暗場、DIC 還是偏光模式下運行，均可以在徠卡 LED照明系統的白光下看到樣本。LED不會產生熱量，以此保護樣本。色溫穩定，確保得出真實的可再現分析結果。此外，它還具有耗電量低的優勢，LED的使用壽命長達20000 個小時，確保無需更換燈。

*僅提供概要性產品信息，這些信息不得構成任何訂單或合同的一部分或視為與相關產品或服務有關的陳述，本公司保留更改任何產品信息或服務的規格、設計或供應條款的權利

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